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產(chǎn)品型號：
所屬分類：物理性能檢測儀
產(chǎn)品時間：2024-09-06
簡要描述：日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-731極小面積的高精度測量和出色的可操作性大尺寸基板的測量?通過使用雙重過濾器以gao精度和jia佳條件進行測量?通過將鼠標對準測量位置來快速對準?多任務(wù)功能甚至在測量過程中也可以創(chuàng)建報告等其他處理?小準直儀可以測量直徑為0.05毫米的極小零件
日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-731
采用雙重過濾器
通過使用除數(shù)值濾波器以外的機械濾波器（雙重濾波器），可以在jia條件下進行測量，從而始終獲得gao的精度。
自動測量階段
通過將鼠標對準測量位置來實現(xiàn)快速對準。如果注冊測量位置，則可以進行連續(xù)自動測量。坐標校正和通道鏈接支持各種模式。標準板校準也可以自動測量。
完整的報告創(chuàng)建功能
通過采用MS-Windows軟件，可以輕松捕獲測量屏幕，并增強報告創(chuàng)建功能。使用多任務(wù)功能，即使在測量期間也可以進行包括報告創(chuàng)建在內(nèi)的其他處理。
5種準直儀
小準直儀為0.1φmm，可以測量極小的零件。標準，0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外，有兩種特殊規(guī)格可供選擇。
? 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
? 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
自診斷功能和X射線管維護功能
使用自診斷功能，可以迅速解決設(shè)備故障。此外，增加了顯示X射線管使用時間和使用壽命的功能，以支持維護安全。
膜厚測量中的頻譜顯示
通過多通道進行光譜分析高速處理使顯示被測物的光譜變得容易。（處理速度約2-3秒）
在測量部分顯示監(jiān)控圖像
在Windows屏幕上捕獲X射線照射單元并顯示X射線照射單元。準直儀提供了改變尺寸的放大倍率功能。
可視顯示測量對象的鍍層附著力分布
三維圖形顯示可輕松查看測量對象的鍍層厚度分布。
Be 窗口X射線管（選件）提高的性能（高精度）
我們已經(jīng)為熒光X射線膠片厚度計準備了Be窗口X射線管。
通過使用Be窗口X射線管，Cr測量和Ni測量的重復測量精度顯著提高。
與標準X射線管的比較
Sn等的高能量（高原子序數(shù)）測定與以前相同。
當測量低能量（低原子序數(shù)）的Cr和Ni時，Cr的重復性提高了約3倍，Ni的重復性提高了約2倍。
當測量兩層時，中間層中Ni的測量精度提高了約20％。
通過使用Be窗口X射線管，Cr的熒光X射線強度比常規(guī)標準設(shè)備的熒光X射線強度高大約9倍。
因此，可以在短時間內(nèi)以與以前相同的精度進行測量。
請考慮使用此Be窗口X射線管。
日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-731
| 類型 | 手動階段 | 電動舞臺 | ||
| 測量頭 | 尺寸（毫米） | 170 x 110 | 300 x 280 | |
| 運動量 | X（毫米） | 70 | 80 | |
| Y（毫米） | 70 | 60 | ||
| Z（毫米） | 80（大物體高度150） | 50 | ||
| 被測物體高度（大） | 80（選件150） | 50 | ||
| 尺寸（毫米） | 600（寬）x 465（深）x 730（高） | |||
| 重量（公斤） | 79 | 85 | ||
| 樣品負荷（kg） | 3 | 2 | ||
| 電腦 | 尺寸（毫米） | 機身182（W）x 383（D）x 372（H） /顯示器412（W）x 415（D）x 432（H） | ||
| 重量（公斤） | 主機6.8 /顯示器2.8 | |||
| 打印機 | 重量（公斤） | 3.4 | ||
| 電源供應(yīng) | AC100V±10V的 | |||
（注）規(guī)格如有變更，恕不另行通知。
| X射線源 | 油浸式微聚焦X射線管 靶：鎢 管電壓50kV， 管電流可變 |
| 照射方式 | 頂部垂直照射法 |
| 探測器 | 比例柜臺 |
| 準直儀 | 5種（自動切換類型） 0.1、0.2、0.5、1.0、2.0φmm （選件）：0.05、0.1、0.2、0.3、0.5 ，φ ：0.05×0.5、0.5×0.05、0.1、0.2、0.5φ |
| 樣品觀察 | CCD彩色相機 |
| 電腦 | 兼容PC / AT的 17英寸彩色顯示器 |
| 打印機 | 噴墨打印機 |
| 測量對象 | 原子序數(shù)22（Ti）至82（Pb） 原子序數(shù)21以下可通過吸收法測定 |
| 過濾 | 2種（Co，Ni）自動切換 |
| 可測范圍 | 原子數(shù)22至24：0.02至約20μm 原子數(shù)25至40：0.01至約30μm 原子數(shù)41至51：0.02至約70μm 原子數(shù)52至82：0.05至約10μm |
| 校正曲線 | 自動校準曲線創(chuàng)建功能 多點校準曲線 |
| 校正功能 | 基礎(chǔ)校正 |
| 應(yīng)用 | 單層鍍層測量 兩層鍍層測量 三層鍍層測量 合金膜厚成分比同時測量 化學鍍鎳測量 |
| 測量功能 | 自動測量 輸出格式設(shè)置 頻譜測量 兩點之間的距離測量 |
| 自動表功能 | 測量位置（XYZ） 相同圖案重復功能 原點校正功能 測量位置確認功能 自動校準 |
| 數(shù)據(jù)處理功能 | 統(tǒng)計顯示：平均值，標準偏差，大值，小值，范圍，Cp，Cpk 直方圖 輪廓顯示 測量數(shù)據(jù)三維顯示 x-R控制圖 |
| 安全功能 | X射線電源鑰匙開關(guān) 故障安全功能 |
| 其他特性 | 平臺坐標顯示 密碼功能 設(shè)備維護 |
