在半導(dǎo)體、光學(xué)薄膜、新材料研發(fā)等高精度制造領(lǐng)域，材料的厚度往往決定著產(chǎn)品的性能與命運(yùn)。當(dāng)測(cè)量精度進(jìn)入微米乃至納米級(jí)別，您是否仍在為數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性、操作的穩(wěn)定性以及設(shè)備的可靠性而困擾？

富士工機(jī)HKT-Master 0.01AA超薄膜測(cè)厚儀，一款專為挑戰(zhàn)極限精度而打造的專業(yè)儀器，旨在為您提供無(wú)可挑剔的測(cè)量解決方案，成為您品質(zhì)控制與前沿研發(fā)中值得信賴的伙伴。

為什么選擇HKT-Master 0.01AA？核心優(yōu)勢(shì)揭秘

我們深知，在超薄膜測(cè)量中，每一個(gè)微小的數(shù)字都舉足輕重。HKT-Master 0.01AA集成了富士工機(jī)的工藝與創(chuàng)新技術(shù)，為您帶來(lái)以下核心優(yōu)勢(shì)：

• ?? 精度，洞察入微
  0.01μm（10納米）的超高分辨率，讓超薄膜材料的微小厚度變化無(wú)處遁形。無(wú)論是監(jiān)測(cè)靜電卡盤的細(xì)微磨損，還是測(cè)量關(guān)鍵的光學(xué)鍍膜，它都能提供足以讓您信賴的精準(zhǔn)數(shù)據(jù)。

• ?? 恒定壓力，穩(wěn)定如一
  摒棄傳統(tǒng)測(cè)厚儀因人為施力不均帶來(lái)的誤差。HKT-Master 0.01AA采用恒定的0.14N測(cè)量壓力與測(cè)量頭向下恒定設(shè)計(jì)，確保每一次測(cè)量都在相同的條件下進(jìn)行，數(shù)據(jù)重復(fù)性高，不同操作者也能獲得一致結(jié)果。

• ?? 匠心選材，經(jīng)久耐用
  核心測(cè)頭采用R30碳化物（碳化鎢）球形測(cè)頭，這種超硬耐磨材料能有效抵抗長(zhǎng)期使用帶來(lái)的磨損，極大延長(zhǎng)了設(shè)備壽命，并保證了長(zhǎng)期測(cè)量精度不衰減，為您節(jié)省長(zhǎng)期成本。

• ?? 人性設(shè)計(jì)，高效便捷
  融合人體工學(xué)設(shè)計(jì)，長(zhǎng)時(shí)間操作也不易疲勞。支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出功能，便于您進(jìn)行質(zhì)量追溯、統(tǒng)計(jì)分析及報(bào)告生成，無(wú)縫對(duì)接您的質(zhì)量管理體系。

?? 主要應(yīng)用場(chǎng)景：賦能高精尖產(chǎn)業(yè)

HKT-Master 0.01AA不僅是測(cè)量工具，更是推動(dòng)產(chǎn)業(yè)升級(jí)的關(guān)鍵力量。

• 半導(dǎo)體行業(yè)：精準(zhǔn)測(cè)量靜電卡盤（ESC）磨損厚度，實(shí)現(xiàn)預(yù)測(cè)性維護(hù)，避免非計(jì)劃停機(jī)，保障晶圓生產(chǎn)的連續(xù)性與穩(wěn)定性。

• 光學(xué)與電子行業(yè)：用于各類光學(xué)鏡頭、濾光片、顯示屏及觸摸屏等功能性薄膜的厚度質(zhì)量控制。

• 材料科研：為新材料的研發(fā)提供精準(zhǔn)、可靠的超薄膜厚度數(shù)據(jù)支撐，加速研發(fā)進(jìn)程。

?? 為專業(yè)場(chǎng)景而生

富士工機(jī)HKT-Master 0.01AA以其性能，已經(jīng)成為半導(dǎo)體設(shè)備維護(hù)、超薄材料研發(fā)及任何對(duì)厚度測(cè)量有嚴(yán)苛要求場(chǎng)景下的設(shè)備。它代表的不僅是一臺(tái)儀器，更是一種對(duì)品質(zhì)追求的態(tài)度。

如果您的測(cè)量需求在0.1μm級(jí)別，且更看重便攜性與無(wú)線操作，不妨也了解一下我們同系列的HKT-Lite 0.1型號(hào)，它或許是您更具性價(jià)比的優(yōu)質(zhì)之選。